22
С 42
Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал, И. С. Ясников [и др.]. - Москва : Технофера, 2006. - 206 с. : ил., фот. - (Мир физики и техники ; 2,15). - Библиогр.: с. 55-56. - ISBN 978-5-94836-200-7 (в пер.) : 370.00 р.
ББК 22.37я73
Рубрики:
Электронная микроскопия -- Сканирование -- Применение -- Учебные издания для высших учебных заведений
Рентгено-спектральный микроанализ -- Применение -- Учебные издания для высших учебных заведений
Держатели документа:
Тюменская ОНБ
Доп. точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович
Ясников, Игорь Станиславович
Полунин, Виктор Иванович
Филатов, Анатолий Михайлович
Ульяненков, Александр Георгиевич
Экземпляры всего: 1
КХ (С 5) (1)
Свободны: КХ (С 5) (1)
|