30
Р 24
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / [Р. Андерхальт и др.] ; под ред. Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова и К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582, [2] с. : вкл. [8] л., ил. ; 25 см. - Вар. загл. : Методы и применение. - Авт. указаны на 5-8-й с. текста. - Библиогр. в конце гл. - Пер. изд. : Scanning Microscopy for Nanotechnology. - 700 экз.. - ISBN 978-5-9963-1110-1 (в пер.) : 803.11 р.
Характер док. указан в аннот. Загл. ориг.: Scanning Microscopy for Nanotechnology
ББК 30.600.3
Рубрики:
Нанотехнологии
Наноструктуры -- Исследование -- Электронно-микроскопические методы
Кл.слова (ненормированные): наноматериалы -- наноструктуры -- нанообъекты -- рентгеновский микроанализ -- просвечивающие микроскопы -- электронная криомикроскопия -- наночастицы -- нанопроволока -- нанотрубки
Держатели документа:
Тюменская ОНБ : Орджоникидзе, 59
Доп. точки доступа:
Андерхальт, Роберт
Анзалоне, Поль
Апкариан, П. Роберт
Борисевич, А.
Карунту, Даниела
Жу, Уэйли\ред.\
Уанг, Жонг Лин\ред.\
Иванов, С. А.\пер.\
Домкин, К. И.\пер.\
Экземпляры всего: 1
КХ (С 5) (1)
Свободны: КХ (С 5) (1)
|