Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 30/К 45 Автор(ы) : Китайский В. Е. Заглавие : Основы патентной экспертизы : учеб. пособие . -2-е издание, переработанное и дополненное Выходные данные : Москва: ПАТЕНТ, 2007 Колич.характеристики :293, [3] с.: ил. Примечания : Библиогр.: с. 291-294 : ГРНТИ : 85.37.37 ББК : 30у.я73 Предметные рубрики: Патентное дело Экземпляры :КХ (С 4)(1) Свободны : КХ (С 4)(1) Держатели документа: Тюменская ОНБ