Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 30/Р 24 Автор(ы) : Андерхальт, Роберт, Анзалоне, Поль, Апкариан, П. Роберт, Борисевич А., Карунту, Даниела Заглавие : Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] Выходные данные : Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 Колич.характеристики :582, [2] с.: вкл. [8] л., ил.; 25 см Разночтения заглавия :Вар. загл.: Методы и применение Перевод издания: Scanning Microscopy for Nanotechnology Примечания : Библиогр. в конце гл. - Авт. указаны на 5-8-й с. текста. - Характер док. указан в аннот.Загл. ориг.: Scanning Microscopy for Nanotechnology ISBN (в пер.), Цена 978-5-9963-1110-1: 803.11, р. ГРНТИ : 81.13.30 ББК : 30.600.3. LBC/M Предметные рубрики: Нанотехнологии Наноструктуры-- Исследование-- Электронно-микроскопические методы Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноматериалы--наноструктуры--нанообъекты--рентгеновский микроанализ--просвечивающие микроскопы--электронная криомикроскопия--наночастицы--нанопроволока--нанотрубки Экземпляры :КХ (С 5)(1) Свободны : КХ (С 5)(1) Держатели документа: Тюменская ОНБ : Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Андерхальт, Роберт Анзалоне, Поль Апкариан, П. Роберт Борисевич, А. Карунту, Даниела Жу, Уэйли\ред.\ Уанг, Жонг Лин\ред.\ Иванов, С. А.\пер.\ Домкин, К. И.\пер.\