543.4/.5
О-62
Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского дифракционного пика по программе WinFit / В. П. Сиротинкин [и др.]. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 4. - С. 33-37. - Библиогр.: с. 37 (8 назв. )
. - ISSN 1028-6861
ББК 24.46/48 + 32.973-018.2
Рубрики:
Химия
Физико-химические методы анализа
Вычислительная техника
Прикладные информационные (компьютерные) технологии в целом
Кл.слова (ненормированные): микроструктурные характеристики -- нанопорошки вольфрама -- профили дифракционных пиков -- рентгеновские дифракционные пики -- когерентное рассеяние -- микродеформации -- плазмохимический синтез -- водородное восстановление -- вольфрамовая кислота -- дифракционные пики -- рентгеновская дифракция -- программные пакеты
Аннотация: По программе WinFit по профилю одного дифракционного пика определены значения областей когерентного рассеяния и микродеформаций для порошков вольфрама, полученных плазмохимическим синтезом и методом водородного восстановления из вольфрамовой кислоты.
Держатели документа:
Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59
Доп. точки доступа:
Сиротинкин, В. П.
Михайлова, А. Б.
Шамрай, В. Ф.
Самохин, А. В.
Синайский, М. А.
Тихомиров, С. А.
Тарасов, О. Д.
WinFit\о нем\
Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН (Москва)
Имеются экземпляры в отделах:
УЧЗПИ (4 этаж) (16.05.2014г. Экз. 1 - ) (свободен)
|