Дрогобужская, С. В. Послойный анализ кристаллических пластин танталата лития методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерным пробоотбором / С. В. Дрогобужская, О. Б. Щербина, А. И. Новиков // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 1. - С. 16-21. - Библиогр.: с. 21 (10 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): послойный анализ -- кристаллические пластины -- танталат лития -- масс-спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- лазерная абляция -- лазерный пробоотбор -- vapor transport equilibration -- дифференциально-термический анализ -- рентгеноструктурный анализ -- комбинированное рассеяние -- среднеквадратичное отклонение Аннотация: Методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерной абляцией проведен послойный анализ пластин монокристаллического танталата лития Z-среза (перпендикулярного кристаллографической оси Z), модифицированных методом Vapor Transport Equilibration, с целью установления изменения соотношения Li/Ta. Полученные данные наряду с результатами исследования методами рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинированного рассеяния позволили подтвердить возникновение областей толщиной от десятков до сотен мкм с различным стехиометрическим составом и существенно уточнить их границы, что важно для дальнейшего формирования доменных структур с целью создания устройств интегральной оптики. Держатели документа: Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Щербина, О. Б. Новиков, А. И. Имеются экземпляры в отделах: УЧЗПИ (4 этаж) (10.02.2016г. Экз. 1 - ) (свободен) |