Ильин, В. А. (доктор физико-математических наук; профессор). Сканирующая зондовая микроскопия / В. А. Ильин, В. В. Кудрявцев, Т. А. Ширина // Физика в школе. - 2016. - № 6. - С. 3-13 : 8 рис. . - ISSN 0130-5522
Рубрики: Образование. Педагогика Методика преподавания учебных предметов Кл.слова (ненормированные): бом -- мсм -- эсм -- атомно-силовые микроскопы -- ближнепольные оптические микроскопы -- кантилеверы -- квантовые загоны -- магнитно-силовые микроскопы -- растровые термические микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующий туннельные микроскопы -- типы микроскопов -- туннельный эффект -- учебные предметы -- физика -- электростатические силовые микроскопы Аннотация: Рассмотрены устройство и принцип действия сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового микроскопа (АСМ). Описаны эксперименты по манипуляции атомами, выполненные с помощью СТМ. Обсуждаются преимущества и недостатки СТМ, области применения СТМ и АСМ. Рассказано о других типах сканирующих зондовых микроскопов. Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Кудрявцев, В. В. (кандидат педагогических наук; ведущий редактор учебной литературы по физике) Ширина, Т. А. (старший преподаватель) Имеются экземпляры в отделах: УЧЗПИ (4 этаж) (11.10.2016г. Экз. 1 - ) (свободен) |