Новиков, Ю. Н. Релаксация тока в Si[3]N[4]: эксперимент и численное моделирование / Ю. Н. Новиков, В. А. Гриценко> // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 1. - С. 49-53 : 5 рис. - Библиогр. в конце ст. (21 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): металлы -- нитриды -- оксиды -- полупроводники -- релаксация тока -- численное моделирование -- эксперименты Аннотация: Экспериментально измерена релаксация тока в структуре металл-нитрид-оксид-полупроводник. Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Гриценко, В. А. Имеются экземпляры в отделах: УЧЗПИ (4 этаж) (14.02.2017г. Экз. 1 - ) (свободен) |