Новиков, Ю. Н.
    Релаксация тока в Si[3]N[4]: эксперимент и численное моделирование / Ю. Н. Новиков, В. А. Гриценко // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 1. - С. 49-53 : 5 рис. - Библиогр. в конце ст. (21 назв.) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.379

Рубрики:
Физика
Физика полупроводников и диэлектриков

Кл.слова (ненормированные): металлы -- нитриды -- оксиды -- полупроводники -- релаксация тока -- численное моделирование -- эксперименты
Аннотация: Экспериментально измерена релаксация тока в структуре металл-нитрид-оксид-полупроводник.

Держатели документа:
ТОНБ

Доп. точки доступа:
Гриценко, В. А.


Имеются экземпляры в отделах:
УЧЗПИ (4 этаж) (14.02.2017г. Экз. 1 - ) (свободен)