Шифр: М14/2008/2    Журнал Метрология [Текст] : ежеквартальное прил. к науч.-тех. журн."Измерительная техника". - Москва. - ISSN 0132-4713. - Выходит ежеквартально 2008г. N 2 Содержание: Крутиков, В. Н. Метрологическое обеспечение, стандартизация и оценка соответствия нанотехнологий и нанопродукции. Ч.1. / В. Н. Крутиков, Ю. М. Золотаревский, С. Е. Андрюшечкин. - С.5-23. - Библиография в конце статьи. Кл.слова: НАНОТЕХНОЛОГИЯ, НАНОМЕТРОЛОГИЯ, СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ. Назаров, И. В. Измерение распределения температурного поля материалов в СВЧ-устройствах на основе замедляющих систем. / И. В. Назаров. - С.24-31. - Библиография в конце статьи. Кл.слова: ЗАМЕДЛЯЮЩАЯ СИСТЕМА, ПОЛЕ БЕГУЩЕЙ ВОЛНЫ, РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОГО ПОЛЯ, ДИЭЛЕКТРИК. Малышев, И. Н. Измерение волновых параметров рассеяния элементов интегральных СВЧ-структур в полосковых линиях передачи. / И. Н. Малышев, С. М. Никулин, В. Н. Уткин. - С.32-42. - Библиография в конце статьи. Кл.слова: КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО, ВОЛНОВЫЕ ПАРАМЕТРЫ, КАЛИБРОВКА, ПОЛОСКОВАЯ ЛИНИЯ. Имеются экземпляры в отделах: ОПТЛиНД (09.08.2010г. Экз. 1 - ) (свободен)