Взаимодействия электронного пучка с ячейкой памяти кристалла ИМС = Interaction of an Electron Beam with a Memory Cell of an IC Crystal / А. О. Гасников [и др.]> // Нано- и микросистемная техника. - 2017. - Т. 19, № 12. - С. 752-756 : 3 рис., 2 табл. - Библиогр. в конце ст. (4 назв.). - Текст парал.: рус., англ.
. - ISSN 1813-8586 ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника Радиоэлектроника в целом
Кл.слова (ненормированные): ИМС -- интегральные микроскопические схемы -- кристаллы ИМС -- электронные пучки -- ячейки памяти Аннотация: Представлен анализ взаимодействия электронного пучка с ячейкой памяти для реализации процесса оценки ее состояния.
Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Гасников, А. О. (кандидат технических наук) Ершов, М. И. Трушлякова, В. В. (кандидат технических наук) Макаревская, Е. А.
Имеются экземпляры в отделах: УЧЗПИ (4 этаж) (10.01.2018г. Экз. 1 - ) (свободен)
|