Аналитический отклик сенсорных матриц на основе фотонных кристаллов: измерение диффузного отражения / А. В. Иванов [и др.] // Журнал аналитической химии. - 2019. - Т. 74, № 2. - С. 154-160 : 2 табл., 4 рис. - Библиогр.: с. 160 (23 назв.)
. - ISSN 0044-4502
ББК 24.46
Рубрики:
Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные): аналитический отклик матриц -- диффузные отражения -- полидиметилсилоксаны -- полимерные сенсорные матрицы -- сенсорные матрицы -- спектроскопия диффузного отражения -- спектрофлуориметрия -- спектрофотометры -- фотонные кристаллы
Аннотация: Методом спектроскопии диффузного отражения изучены сенсорные органические матрицы на основе фотонных кристаллов из полистирольных субмикронных частиц, закрытых слоем полидиметилсилоксана.
Держатели документа:
ТОНБ
Доп. точки доступа:
Иванов, А. В.
Большаков, Е. С.
Апяри, В. В.
Козлов, А. А.
Горбунова, М. В.
Абдуллаев, С. Д.
Имеются экземпляры в отделах:
УЧЗПИ (4 этаж) (26.02.2019г. Экз. 1 - ) (свободен)
|