Исследование оптимальной температуры отжига для усиления термоэлектрических свойств пленок ZnO, выращенных методом MOCVD = Investigation of optimal annealing temperature to for enhanced thermoelectric properties of MOCVD grown ZnO / К. Махмуд [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2017. - Т. 151, вып. 4. - С. 682-685. - Библиогр. в конце статьи . - ISSN 0044-4510 УДК ^a530.1 ББК 22.31 Рубрики: Физика Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): пленки -- температурный отжиг -- термоэлектрические свойства -- тонкие пленки zno -- mocvd -- отжиг тонких пленок Аннотация: Показано влияние температуры отжига на термоэлектрические свойства пленок ZnO, выращенных на сапфировой подложке методом MOCVD. Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Махмуд, К. Али, А. Аршад, М. И. Айяз ун Наби, М. Амин, Н. Фараз Муртаза, С. Рабиа, С. Азар Хан, М. Имеются экземпляры в отделах: УЧЗПИ (4 этаж) (24.05.2017г. Экз. 1 - ) (свободен)