Байесовская сегментация электронно-микроскопических изображений наноструктур на основе распределения Гиббса / Б. Н. Грудин [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 8. - С. 1092-1096 : рис. - Библиогр.: c. 1096 (4 назв. )
. - ISSN 0367-6765
ББК 22.37
Рубрики:
Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные): байесовская сегментация -- гиббса распределение -- метод метрополиса -- метрополиса метод -- наноструктуры -- распределение гиббса -- электронно-микроскопические изображения
Аннотация: Исследовано применение байесовской сегментации электронно-микроскопических изображений на основе распределения Гиббса для визуализации наноструктур. Сущность байесовской сегментации состоит в разбиении изображения на неперекрывающиеся области, которое в наибольшей степени соответствует наблюдаемому изображению. Количественной характеристикой этого соответствия выступает апостериорная вероятность того или иного варианта разбиения. Наиболее вероятным будет такое разбиение, апостериорная вероятность которого максимальна. Для получения байесовских оценок апостериорности вероятности разбиения использовался алгоритм стохастической релаксации - метод Метрополиса. Исследование байесовского метода сегментации состояло в визуализации наноструктур на электронно-микроскопическом изображении пленки нанокристалического сплава NiW.
Держатели документа:
ТОНБ
Доп. точки доступа:
Грудин, Б. Н.
Плотников, В. С.
Пустовалов, Е. В.
Полищук, С. В.
Смольянинов, Н. А.
Ефремов, А. А.
Имеются экземпляры в отделах:
УЧЗПИ (4 этаж) (09.10.2013г. Экз. 1 - ) (свободен)
|