Процессы захвата и диссоциативного захвата одного электрона при взаимодействии двухзарядных ионов с молекулами CO / А. А. Басалаев [и др.] // Журнал технической физики. - 2019. - Т. 89, № 8. - С. 1164-1169. - Библиогр.: с. 1168-1169 (30 назв. )
. - ISSN 0044-4642
ББК 22.333
Рубрики:
Физика
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные): электроны -- двухзарядные ионы -- захват электрона -- диссоциативный захват электрона -- одноэлектронный захват -- оксид углерода -- сечения захвата
Аннотация: Измерены абсолютные величины сечений процессов одноэлектронного захвата и одноэлектронного захвата с диссоциацией при взаимодействии ионов He{2+}, C{2+}, N{2+} и O{2+} с молекулой СО в диапазоне энергий налетающих ионов от 6. 4 до 36. 4 keV. Обнаружено, что для иона-снаряда О{2+} сечение процесса диссоциативного захвата существенно больше, чем сечение процесса одноэлектронного захвата. Дано качественное объяснение этого эффекта.
Держатели документа:
ТОНБ
Доп. точки доступа:
Басалаев, А. А.
Кузьмичев, В. В.
Панов, М. Н.
Смирнов, О. В.
Имеются экземпляры в отделах:
УЧЗПИ (4 этаж) (10.09.2019г. Экз. 1 - ) (свободен)
|