Применение сканирующей емкостной силовой микроскопии для выявления примесных фаз в сегнетоэлектрике триглицинсульфат / Р. В. Гайнутдинов [и др.] // Журнал технической физики. - 2019. - Т. 89, № 11. - С. 1692-1698. - Библиогр.: с. 1697-1698 (32 назв. ). - Материалы XXIII Международного симпозиума "Нанофизика и наноэлектроника" (Нижний Новгород, 11 - 14 марта 2019 г. )
. - ISSN 0044-4642
ББК 22.37
Рубрики:
Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные): сканирующая емкостная силовая микроскопия -- примесные фазы -- сегнетоэлектрики -- триглицинсульфат -- симпозиумы -- электростатическая сила -- пьезоотклик -- поверхностный потенциал -- топография поверхности -- примеси -- хром
Аннотация: Представлены результаты исследования неоднородного сегнетоэлектрика - монокристалла триглицинсульфата с ростовой периодической примесной структурой TGS-TGS+Cr методом сканирующей емкостной силовой микроскопии (СЕСМ). Рассмотрены особенности отображения вариаций емкости при детектировании электростатической силы на удвоенной и утроенной резонансной частоте. Проведены измерения пьезоотклика, поверхностного потенциала и топографии поверхности. Показано, что емкостной контраст формируется как на доменных границах, так и на полосах TGS и TGS+Cr. Продемонстрировано, что СЕСМ на удвоенной резонансной частоте электростатической силы позволяет наблюдать пространственное распределение примеси в сегнетоэлектрической структуре при разнице в концентрации хрома на уровне ~ 0. 02-0. 08 mass. %.
Держатели документа:
ТОНБ
Доп. точки доступа:
Гайнутдинов, Р. В.
Толстихина, А. Л.
Лашкова, А. К.
Белугина, Н. В.
Шут, В. Н.
Мозжаров, С. Е.
Кашевич, И. Ф.
Имеются экземпляры в отделах:
УЧЗПИ (4 этаж) (17.12.2019г. Экз. 1 - ) (свободен)
|