Сечения образования ионов He{+} в различных электронных состояниях при столкновениях ионов He{2+} с атомами водорода / А. А. Басалаев, В. В. Кузьмичев, М. Н. Панов, О. В. Смирнов // Журнал технической физики. - 2020. - Т. 90, № 6. - С. 895-899. - Библиогр.: с. 899 (26 назв. )
. - ISSN 0044-4642
ББК 22.36
Рубрики:
Физика
Молекулярная физика в целом
Кл.слова (ненормированные): захват электрона -- столкновительная спектроскопия -- сечения образования ионов -- атомарный водород
Аннотация: Методом столкновительной спектроскопии, основанном на прецизионном измерении кинетической энергии ионов-снарядов, захвативших электрон, измерены парциальные сечения образования ионов He{+} (n) в определенных электронных состояниях в процессе захвата электрона ионами 3He{2+} с энергией E=1. 4-10 keV/a. m. u. у атомов водорода. Создана мишень атомарного водорода со степенью диссоциации 78% при температуре вольфрамовой ячейки диссоциации 2180 K.
Держатели документа:
ТОНБ
Доп. точки доступа:
Басалаев, А. А.
Кузьмичев, В. В.
Панов, М. Н.
Смирнов, О. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
|