Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 34/Ф 20 Автор(ы) : Фам Хоа Ван Заглавие : Патентная экспертиза в странах-участницах АСЕАН Серия: Патентное законодательство за рубежом Место публикации : Интеллектуальная собственность. Промышленная собственность: научно-практический журнал/ главный редактор Н. Б. Терентьева. - Москва: Интеллектуальная собственность, 2007. - N 11. - С. 51-54. - ISSN 0201-7067 (Шифр И50/2007/11). - ISSN 0201-7067 ГРНТИ : 85 УДК : 34 ББК : 67 Предметные рубрики: Правовая охрана интеллектуальной собственности Дескрипторы: исследования и интеллектуальная собственность Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): патентная экспертиза--патенты--патентное законодательство--патентное право--явочная система--проверочная система Аннотация: Системы патентной экспертизы стран-участниц АСЕАН. Держатели документа: Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59