Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Дрогобужская С. В., Щербина О. Б., Новиков А. И. Заглавие : Послойный анализ кристаллических пластин танталата лития методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерным пробоотбором Серия: Анализ вещества Место публикации : Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 1. - С.16-21. - ISSN 1028-6861 (Шифр З14/2016/1). - ISSN 1028-6861 Примечания : Библиогр.: с. 21 (10 назв. ) УДК : 543.4/.5 ББК : 24.46/48 Предметные рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): послойный анализ--кристаллические пластины--танталат лития--масс-спектрометрия--индуктивно-связанная плазма--лазерная абляция--лазерный пробоотбор--vapor transport equilibration--дифференциально-термический анализ--рентгеноструктурный анализ--комбинированное рассеяние--среднеквадратичное отклонение Аннотация: Методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерной абляцией проведен послойный анализ пластин монокристаллического танталата лития Z-среза (перпендикулярного кристаллографической оси Z), модифицированных методом Vapor Transport Equilibration, с целью установления изменения соотношения Li/Ta. Полученные данные наряду с результатами исследования методами рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинированного рассеяния позволили подтвердить возникновение областей толщиной от десятков до сотен мкм с различным стехиометрическим составом и существенно уточнить их границы, что важно для дальнейшего формирования доменных структур с целью создания устройств интегральной оптики. Держатели документа: Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Щербина, О. Б. Новиков, А. И.