Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Суворов Э. В., Смирнова И. А. Заглавие : Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии) Серия: Обзоры актуальных проблем Место публикации : Успехи физических наук. - 2015. - Т. 185, № 9. - С.897-915: 28 рис. - ISSN 0042-1294 (Шифр У30/2015/9). - ISSN 0042-1294 Примечания : Библиогр.: с. 914-915 (103 назв.) УДК : 535.33 + 539.21:535 ББК : 22.344 + 22.374 Предметные рубрики: Физика Спектроскопия Оптические свойства твердых тел Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская топография--рентгеновская микроскопия--рентгеновская оптика--кристаллы--кристаллические структуры--дефекты кристаллов--дифракционный контраст дефектов--дифракционное изображение--секционные топограммы--численное моделирование Аннотация: Рассмотрены вопросы образования и структуры рентгеновского дифракционного изображения дефектов кристаллической решетки в методах рентгеновской топографии. Проанализированы подходы описания (лучевая и волновая оптика) и области применения геометрической и дифракционной оптики реального кристалла. На примерах конкретных экспериментальных изображений дислокаций и других дефектов продемонстрирована роль различных дифракционных эффектов (отражение волн от искажений кристаллической решетки, дифракционная фокусировка, каналирование), влияющих на характер формируемого изображения. Обсуждены возможности получения количественной информации о параметрах дефектов. Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Смирнова, И. А.