Заглавие журнала :Метрология -2008г.,N 2 Интересные статьи : Крутиков В.Н. Метрологическое обеспечение, стандартизация и оценка соответствия нанотехнологий и нанопродукции. Ч.1./ В. Н. Крутиков, Ю. М. Золотаревский, С. Е. Андрюшечкин (стр.5-23.) Кл.слова: нанотехнология,нанометрология,система обеспечения единства измерений. Назаров И. В. Измерение распределения температурного поля материалов в СВЧ-устройствах на основе замедляющих систем./ И. В. Назаров (стр.24-31.) Кл.слова: замедляющая система,поле бегущей волны,распределение температурного поля, диэлектрик. Малышев И.Н. Измерение волновых параметров рассеяния элементов интегральных СВЧ-структур в полосковых линиях передачи./ И. Н. Малышев, С. М. Никулин, В. Н. Уткин (стр.32-42.) Кл.слова: контактное устройство,волновые параметры,калибровка, полосковая линия. Интересные статьи : Доп. точки доступа: Крутиков, В. Н. Назаров, И. В. Малышев, И. Н. Золотаревский, Ю. М. Никулин, С. М. Андрюшечкин, С. Е. Уткин, В. Н.