Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Разумовский А. Ю., Чернов М. А., Василенко А. П., Лошкарев И. Д., Труханов Е. М. Заглавие : Методические возможности двухкристальных рентгеновских дифрактометров Серия: Исследование структуры и свойств .     Физические методы исследования и контроля Место публикации : Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2015. - Т. 81, № 1, ч. 1. - С.34-39. - ISSN 1028-6861 (Шифр З14/2015/1). - ISSN 1028-6861 Примечания : Библиогр.: с. 39 (18 назв. ) УДК : 542 ББК : 24-3 Предметные рубрики: Химия Лабораторное химическое оборудование Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): двухкристальные дифрактометры--дифрактометры--рентгеновские дифрактометры--контроль структуры монокристаллов--тонкопленочные системы--высокое разрешение--автоматические дифрактомеры--картирование--полупроводниковые структуры--трехосевая система измерений--карты обратного пространства--узлы обратной решетки--распределение интенсивности--интенсивность рентгеновских лучей--кривые дифракционного отражения Аннотация: Описаны методические возможности двухкристальных рентгеновских дифрактометров для исследования и контроля структуры монокристаллов и тонкопленочных систем различными дифракционными методами, в том числе методами высокого разрешения. Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Разумовский, А. Ю. Чернов, М. А. Василенко, А. П. Лошкарев, И. Д. Труханов, Е. М. ООО ИТЦ "Радикон". 2 \о нем\ Радикон, инновационно-технический центр. 2 \о нем\