Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Грудин Б. Н., Плотников В. С., Пустовалов Е. В., Полищук С. В., Смольянинов Н. А., Ефремов А. А. Заглавие : Байесовская сегментация электронно-микроскопических изображений наноструктур на основе распределения Гиббса Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 8. - С.1092-1096: рис. - ISSN 0367-6765 (Шифр И14/2013/8). - ISSN 0367-6765 Примечания : Библиогр.: c. 1096 (4 назв. ) УДК : 539.213:539.25:0049 ББК : 22.37 Предметные рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): байесовская сегментация--гиббса распределение--метод метрополиса--метрополиса метод--наноструктуры--распределение гиббса--электронно-микроскопические изображения Аннотация: Исследовано применение байесовской сегментации электронно-микроскопических изображений на основе распределения Гиббса для визуализации наноструктур. Сущность байесовской сегментации состоит в разбиении изображения на неперекрывающиеся области, которое в наибольшей степени соответствует наблюдаемому изображению. Количественной характеристикой этого соответствия выступает апостериорная вероятность того или иного варианта разбиения. Наиболее вероятным будет такое разбиение, апостериорная вероятность которого максимальна. Для получения байесовских оценок апостериорности вероятности разбиения использовался алгоритм стохастической релаксации - метод Метрополиса. Исследование байесовского метода сегментации состояло в визуализации наноструктур на электронно-микроскопическом изображении пленки нанокристалического сплава NiW. Держатели документа: ТОНБ Доп. точки доступа: Грудин, Б. Н. Плотников, В. С. Пустовалов, Е. В. Полищук, С. В. Смольянинов, Н. А. Ефремов, А. А.