Базы данных


Патентная и нормативно-техническая документация- результаты поиска

Вид поиска

КОЛЛЕКЦИИ
Область поиска
 Найдено в других БД:Электронный каталог книг (7)Журналы. Газеты. Статьи (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>R=29.35.43$<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.


    (Свободных экземпляров нет)
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.15/А 22
Заглавие : Автоионная микроскопия
Выходные данные : Москва: Мир, 1971
Колич.характеристики :270 с.: ил.; 22 см
Примечания : Библиогр. по автономной микроскопии за 1951-1965 гг.: с. 223-227. - Библиогр.: с. 215-222 и с. 262-267 (208 назв.). - В огл. авт.: Э. В. Мюллер, М. Саутон, Д. Брэндон и др.Доп. тит. л.: Field-ion microscopy
Цена : 1.85 р.
ГРНТИ : 29.35.43
Предметные рубрики: Ионная микроскопия
Экземпляры :ДП1(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22/С 38
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [монография]
Выходные данные : Москва: Технофера, 2006
Колич.характеристики :249, [4] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий; 6,08
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-064-4:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : 22.338.4
Предметные рубрики: Оптика электронная
Экземпляры :КХ (С 5)(1)
Свободны : КХ (С 5)(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22/П 16
Автор(ы) : Пантелеев В. Г., Егорова О. В., Клыкова Е. И.
Заглавие : Компьютерная микроскопия
Выходные данные : Москва: Технофера, 2005
Колич.характеристики :303 с.: ил., фот.
Серия: Мир материалов и технологий; 6,05
Примечания : Библиогр.: с. 302-303
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-025-3:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : 22.338.4
Предметные рубрики: Оптика компьютерная
Экземпляры :КХ (С 5)(1)
Свободны : КХ (С 5)(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22/С 42
Автор(ы) : Криштал, Михаил Михайлович, Ясников, Игорь Станиславович, Полунин, Виктор Иванович, Филатов, Анатолий Михайлович, Ульяненков, Александр Георгиевич
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"
Выходные данные : Москва: Технофера, 2006
Колич.характеристики :206 с.: ил., фот.
Серия: Мир физики и техники; 2,15
Примечания : Библиогр.: с. 55-56
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-200-7:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : 22.37я73
Предметные рубрики: Электронная микроскопия-- Сканирование-- Применение
Рентгено-спектральный микроанализ-- Применение
Экземпляры :КХ (С 5)(1)
Свободны : КХ (С 5)(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 24/С 42
Автор(ы) : Агапова, Ольга Игоревна, Ефимов, Антон Евгеньевич, Соколов, Дмитрий Юрьевич, Агапов, Игорь Иванович
Заглавие : Сканирующая зондовая нанотомография : монография
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :183 с.: ил., цв. ил.; 22 см
Коллективы : Федеральный научный центр трансплантологии и искусственных органов им. В. И. Шумакова (Москва)
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр. в тексте. - Коллектив указан на обл.
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-456-8:
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : 24.216.5. LBC/RL
Предметные рубрики: Сканирующая микроскопия зондовая
Экземпляры :КХ (С 6)(1)
Свободны : КХ (С 6)(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 28/М 80
Автор(ы) : Морозова, Ксения Николаевна (канд. биол. наук, клеточная биология)
Заглавие : Основы электронной микроскопии : учебное пособие для вузов . -2-е издание
Выходные данные : Москва: Юрайт, 2021
Колич.характеристики :84 с.: ил., табл.; 21 см
Коллективы : Новосибирский государственный университет
Серия: Высшее образование
Примечания : Библиогр.: с. 83-84 (22 назв.). - На тит. л.: Книга доступна на образовательной платформе "Юрайт" urait.ru, а также в мобильном приложении "Юрайт.Библиотека"
ISBN, Цена 978-5-534-14415-4: Б.ц.
ISBN, Цена 978-5-4437-1104-1: Б.ц.
ГРНТИ : 34.19 + 29.35.43
ББК : 28.05я73. LBC/M + 22.338.4я73. LBC/M
Предметные рубрики: Электронная микроскопия-- Применение в биологии
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): клеточная биология--цитология--стереология--электронно-микроскопические образцы
Аннотация: Пособие состоит из вводной части, освещающей историю возникновения и основные принципы электронной микроскопии; основной части, содержащей иллюстрированный обзор методик и подробные протоколы пробоподготовки различных биологических объектов, и заключительной части с общими рекомендациями и списком литературы, в том числе перечнем интернет-ресурсов, посвященных электронной микроскопии. Учебно-методическое пособие предназначено для магистрантов первого курса кафедры цитологии и генетики факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии. Рекомендовано также всем специалистам, начинающим заниматься электронно-микроскопическими исследованиями, в частности, электронно-микроскопическим анализом биологических объектов.
Экземпляры :КХ (С 6)(1)
Свободны : КХ (С 6)(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22/Д 64
Автор(ы) : Долгинцев Д. М., Пронин, Виталий Петрович, Хинич, Иосиф Исаакович
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия: теория и практика исследований : учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Изд-во РГПУ им. А. И. Герцена, 2018
Колич.характеристики :85 с.: ил.; 21 см
Коллективы : Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена (Санкт-Петербург)
Серия: HERZEN. Физика
Примечания : Библиогр.: с. 85 (15 назв.) и в подстроч. примеч.
ISBN, Цена 978-5-8064-2514-1: 168.00, р.
ГРНТИ : 29.35.43
ББК : 22.37,5я73. LBC/M
Предметные рубрики: Электронная микроскопия сканирующая
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия
Аннотация: Учебное пособие состоит из нескольких дополняющих друг друга частей. В них рассматриваются принципы работы основных типов электронных микроскопов, сопоставляются реализуемые в них разрешения, обсуждаются возможности электронно-зондового рентгеновского микроанализа.
Экземпляры :КХ (С 11)(1)
Свободны : КХ (С 11)(1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)