Д 72 Дракин, Александр Юрьевич. Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2018. - 282, [2] с. : ил. ; 21 см. - (Магистратура и аспирантура) (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 272-279 (111 назв.). - 300 экз.. - ISBN 978-5-8114-3312-4 (в пер.) : 807.78 р.
Рубрики: Интегральные схемы -- Параметры -- Контроль -- Монографии Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- универсальные тестеры -- неэлектрические параметры -- электрические параметры Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Держатели документа: Тюменская ОНБ : Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Зотин, Виталий Федорович Потапов, Леонид Алексеевич Экземпляры всего: 1 КХ (С 6) (1) Свободны: КХ (С 6) (1) |