С 38 Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : [монография] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Технофера, 2006. - 249, [4] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; 6,08). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 (в пер.) : 110.00 р.
Рубрики: Оптика электронная Кл.слова (ненормированные): электронная микроскопия -- аналитическая микроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- микроскопы Держатели документа: Тюменская ОНБ Доп. точки доступа: Оикава, Тецуо Иванов, С. А.\пер.\ Экземпляры всего: 1 КХ (С 5) (1) Свободны: КХ (С 5) (1) |
П 16 Пантелеев, В. Г. Компьютерная микроскопия / В. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - Москва : Технофера, 2005. - 303 с. : ил., фот. - (Мир материалов и технологий ; 6,05). - Библиогр.: с. 302-303. - ISBN 5-94836-025-3 (в пер.) : 275.00 р.
Рубрики: Оптика компьютерная Кл.слова (ненормированные): компьютерная микроскопия -- световая микроскопия -- микроскоп Держатели документа: Тюменская ОНБ Доп. точки доступа: Егорова, О. В. Клыкова, Е. И. Экземпляры всего: 1 КХ (С 5) (1) Свободны: КХ (С 5) (1) |
С 42 Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение" / М. М. Криштал, И. С. Ясников [и др.]. - Москва : Технофера, 2006. - 206 с. : ил., фот. - (Мир физики и техники ; 2,15). - Библиогр.: с. 55-56. - ISBN 978-5-94836-200-7 (в пер.) : 370.00 р.
Рубрики: Электронная микроскопия -- Сканирование -- Применение -- Учебные издания для высших учебных заведений Рентгено-спектральный микроанализ -- Применение -- Учебные издания для высших учебных заведений Держатели документа: Тюменская ОНБ Доп. точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович Ясников, Игорь Станиславович Полунин, Виктор Иванович Филатов, Анатолий Михайлович Ульяненков, Александр Георгиевич Экземпляры всего: 1 КХ (С 5) (1) Свободны: КХ (С 5) (1) |
С 42 Сканирующая зондовая нанотомография : монография / О. И. Агапова [и др. ; Федеральный научный центр трансплантологии имени академика В. И. Шумакова]. - Москва : Техносфера, 2016. - 183 с. : ил., цв. ил. ; 22 см. - (Мир физики и техники). - Коллектив указан на обл. - Библиогр. в тексте. - 500 экз.. - ISBN 978-5-94836-456-8 (в пер.) : 522.50 р.
Рубрики: Сканирующая микроскопия зондовая -- Монографии Кл.слова (ненормированные): ультрамикротомия -- нанотехнологии Держатели документа: Тюменская ОНБ Доп. точки доступа: Агапова, Ольга Игоревна (кандидат биологических наук) Ефимов, Антон Евгеньевич (кандидат физико-математических наук) Соколов, Дмитрий Юрьевич Агапов, Игорь Иванович (доктор биологических наук, профессор) Федеральный научный центр трансплантологии и искусственных органов им. В. И. Шумакова (Москва)\\ Экземпляры всего: 1 КХ (С 6) (1) Свободны: КХ (С 6) (1) |
М 80 Морозова, Ксения Николаевна (канд. биол. наук, клеточная биология). Основы электронной микроскопии : учебное пособие для вузов / К. Н. Морозова ; Новосибирский государственный университет. - 2-е издание. - Москва : Юрайт, 2021. - 84 с. : ил., табл. ; 21 см. - (Высшее образование). - Библиогр.: с. 83-84 (22 назв.). - ISBN 978-5-534-14415-4 (Юрайт). - ISBN 978-5-4437-1104-1 (ИПЦ НГУ) : 214.12 р. На тит. л.: Книга доступна на образовательной платформе "Юрайт" urait.ru, а также в мобильном приложении "Юрайт.Библиотека"
Рубрики: Электронная микроскопия -- Применение в биологии -- Учебные издания для высших учебных заведений Кл.слова (ненормированные): клеточная биология -- цитология -- стереология -- электронно-микроскопические образцы Аннотация: Пособие состоит из вводной части, освещающей историю возникновения и основные принципы электронной микроскопии; основной части, содержащей иллюстрированный обзор методик и подробные протоколы пробоподготовки различных биологических объектов, и заключительной части с общими рекомендациями и списком литературы, в том числе перечнем интернет-ресурсов, посвященных электронной микроскопии. Учебно-методическое пособие предназначено для магистрантов первого курса кафедры цитологии и генетики факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии. Рекомендовано также всем специалистам, начинающим заниматься электронно-микроскопическими исследованиями, в частности, электронно-микроскопическим анализом биологических объектов. Держатели документа: Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Новосибирский государственный университет\\ Экземпляры всего: 1 КХ (С 6) (1) Свободны: КХ (С 6) (1) |
Д 64 Долгинцев, Д. М. Сканирующая электронная микроскопия: теория и практика исследований : учебное пособие / Д. М. Долгинцев, В. П. Пронин, И. И. Хинич ; Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена". - Санкт-Петербург : Изд-во РГПУ им. А. И. Герцена, 2018. - 85 с. : ил. ; 21 см. - (HERZEN. Физика). - Библиогр.: с. 85 (15 назв.) и в подстроч. примеч. - 80 экз.. - ISBN 978-5-8064-2514-1 : 168.00 р.
Рубрики: Электронная микроскопия сканирующая -- Учебные издания для высших учебных заведений Кл.слова (ненормированные): микроскопия Аннотация: Учебное пособие состоит из нескольких дополняющих друг друга частей. В них рассматриваются принципы работы основных типов электронных микроскопов, сопоставляются реализуемые в них разрешения, обсуждаются возможности электронно-зондового рентгеновского микроанализа. Держатели документа: Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Пронин, Виталий Петрович Хинич, Иосиф Исаакович Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена (Санкт-Петербург)\\ Экземпляры всего: 1 КХ (С 11) (1) Свободны: КХ (С 11) (1) |