Сорбционно-атомно-эмиссионное определение As, Bi, Sb, Se и Te в возвратном металлсодержащем сырье / М. С. Доронина [и др.]> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 11. - С. 3-7. - Библиогр.: с. 6-7 (12 назв. )
. - ISSN 1028-6861 ББК 24.44 + 24.46/48
Рубрики: Химия Анализ неорганических веществ Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные): сорбционное концентрирование -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- металлсодержащее сырье -- возвратное сырье -- вторичное металлсодержащее сырье -- мышьяк -- висмут -- сурьма -- селен -- теллур -- дуговой атомно-эмиссионный анализ -- азотсеросодержащие сорбенты -- токсичные элементы -- контроль токсичности -- методы анализа сырья -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров Аннотация: Разработан комбинированный метод анализа вторичного сырья, включающего сорбционное концентрирование As, Bi, Sb, Se, Te и их атомно-эмиссионное определение в фазе сорбента или в растворе концентрата, полученном при последующей десорбции.
Держатели документа: Тюменская ОНБ : ул. Орджоникидзе, 59 Доп. точки доступа: Доронина, М. С. Ширяева, О. А. Филатова, Д. Г. Петров, А. М. Дальнова, О. А. Барановская, В. Б. Карпов, Ю. А.
Имеются экземпляры в отделах: УЧЗПИ (4 этаж) (16.12.2013г. Экз. 1 - ) (свободен)
|